Кітайская фабрыка і вытворцы металаграфічнага мікраскопа тыпу кампутара FCM2000W |Чэню

FCM2000W Металаграфічны мікраскоп камп'ютэрнага тыпу Рэкамендаваны малюнак

Металаграфічны мікраскоп камп'ютэрнага тыпу FCM2000W

Спецыфікацыя

FCM2000W Увядзенне

Металаграфічны мікраскоп камп'ютэрнага тыпу FCM2000W - гэта трохнакулярны інвертаваны металаграфічны мікраскоп, які выкарыстоўваецца для ідэнтыфікацыі і аналізу камбінаванай структуры розных металаў і сплаваў.Ён шырока выкарыстоўваецца на заводах і ў лабараторыях для ідэнтыфікацыі якасці адліўкі, праверкі сыравіны або пасля апрацоўкі матэрыялу.Аналіз металаграфічнай структуры і даследаванне некаторых паверхневых з'яў, такіх як распыленне паверхні;металаграфічны аналіз сталі, матэрыялаў з каляровых металаў, адлівак, пакрыццяў, петраграфічны аналіз геалогіі і мікраскапічны аналіз злучэнняў, керамікі і г.д. у прамысловай сферы эфектыўныя сродкі даследавання.

Механізм факусоўкі

Прыняты механізм грубай і тонкай налады кааксіяльнай факусоўкі ў ніжнім становішчы рукі, які можна рэгуляваць з левага і правага бакоў, высокая дакладнасць тонкай налады, ручная рэгуляванне простая і зручная, і карыстальнік можа лёгка атрымаць ясную і зручны вобраз.Ход грубай рэгулявання складае 38 мм, а дакладнасць дакладнай рэгулявання - 0,002.

Механічная мабільная платформа

Ён прымае буйнамаштабную платформу 180 × 155 мм і ўсталяваны ў правым становішчы, што адпавядае звычкам працы звычайных людзей.Падчас працы карыстальніка зручна пераключацца паміж механізмам факусоўкі і рухам платформы, забяспечваючы карыстальнікам больш эфектыўную рабочую сераду.

Сістэма асвятлення

Сістэма асвятлення Kola тыпу Epi з дыяфрагмай з зменнай апертурай і дыяфрагмай з рэгуляваным па цэнтры, прымае адаптыўнае шырокае напружанне 100-240 В, высокая яркасць 5 Вт і святлодыёднае асвятленне з доўгім тэрмінам службы.

Табліца канфігурацыі FCM2000W

Канфігурацыя		мадэль
Пункт	Спецыфікацыя	FCM2000W
Аптычная сістэма	Аптычная сістэма канчатковых аберацый	·
назіральная труба	Нахіл 45°, трынакулярная назіральная трубка, дыяпазон рэгулявання міжзрэнкавай адлегласці: 54-75 мм, каэфіцыент падзелу прамяня: 80:20	·
акуляр	Акуляр PL10X/18 мм з высокай кропкай зроку і вялікім планам поля	·
	Акуляр PL10X/18 мм з высокай кропкай зроку і вялікім планам поля з мікраметрам	O
	Высокая кропка зроку з вялікім палявым акулярам WF15X/13 мм з мікраметрам	O
	Высокая кропка зроку з вялікім полем акуляра WF20X/10 мм з мікраметрам	O
Мэты (ахраматычныя аб'ектывы далёкага плана)	LMPL5X /0,125 WD15,5 мм	·
	LMPL10X/0,25 WD8,7 мм	·
	LMPL20X/0,40 WD8,8 мм	·
	LMPL50X/0,60 WD5,1 мм	·
	LMPL100X/0,80 WD2,00 мм	O
пераўтваральнік	Унутраны пераўтваральнік пазіцыянавання з чатырма адтулінамі	·
пераўтваральнік	Унутраны канвэртар пазіцыянавання з пяццю адтулінамі	O
Механізм факусоўкі	Механізм кааксіяльнай факусоўкі для грубай і дакладнай рэгулявання ў нізкім становішчы рукі, ход грубага руху за абарот складае 38 мм;дакладнасць тонкай рэгулявання складае 0,02 мм	·
Этап	Трохслаёвая механічная мабільная платформа, плошча 180 мм X 155 мм, правае нізкае кіраванне, ход: 75 мм × 40 мм	·
працоўны стол	Металічная сцэнічная пласціна (цэнтральнае адтуліну Φ12 мм)	·
Сістэма эпі-ілюмінацыі	Сістэма асвятлення Epi-тыпу Kola, з дыяфрагмай з пераменнай апертурай і цэнтральнай дыяфрагмай з рэгуляваным полем, адаптыўнае шырокае напружанне 100-240 В, адзінкавае святлодыёднае святло цёплага колеру магутнасцю 5 Вт, інтэнсіўнасць святла з бесперапыннай рэгуляваннем	·
Сістэма эпі-ілюмінацыі	Сістэма асвятлення Epi-тыпу Kola, з дыяфрагмай з пераменнай апертурай і цэнтральнай дыяфрагмай з рэгуляваным полем, адаптыўнае шырокае напружанне 100-240 В, галагенная лямпа 6 В 30 Вт, інтэнсіўнасць святла з бесперапыннай рэгуляваннем	O
Палярызацыйныя аксэсуары	Плата палярызатара, плата фіксаванага аналізатара, плата аналізатара, якая верціцца на 360°	O
каляровы фільтр	Жоўты, зялёны, сіні, матавыя фільтры	·
Сістэма металаграфічнага аналізу	Праграмнае забеспячэнне для металаграфічнага аналізу JX2016, камера на 3 мільёны, інтэрфейс аб'ектыва адаптара 0,5X, мікраметр	·
кампутар	Бізнес-джэт HP	O

Нататка:“· «стандартны；»O”неабавязкова

Праграмнае забеспячэнне JX2016

«Прафесійная кампутарная аперацыйная сістэма колькаснага аналізу металаграфічных відарысаў», наладжаная сістэмай аналізу металаграфічных відарысаў, апрацоўвае працэсы і параўнанне ў рэжыме рэальнага часу, выяўленне, рэйтынг, аналіз, статыстыку і выходныя графічныя справаздачы сабраных узораў карт.Праграмнае забеспячэнне аб'ядноўвае сучасную перадавую тэхналогію аналізу выявы, якая з'яўляецца ідэальным спалучэннем металаграфічнага мікраскопа і тэхналогіі інтэлектуальнага аналізу.DL/DJ/ASTM і г.д.).Сістэма мае ўсе кітайскія інтэрфейсы, якія лаканічныя, зразумелыя і простыя ў выкарыстанні.Пасля нескладанага навучання або прачытання інструкцыі па эксплуатацыі вы можаце свабодна кіраваць ім.І гэта дае хуткі метад вывучэння металаграфічнага разумнага сэнсу і папулярызацыі аперацый.

Функцыі праграмнага забеспячэння JX2016

Праграмнае забеспячэнне для рэдагавання малюнкаў: больш за дзесяць функцый, такіх як атрыманне і захоўванне малюнкаў;

Праграмнае забеспячэнне для выявы: больш за дзесяць функцый, такіх як паляпшэнне выявы, накладанне выявы і г.д.;

Праграмнае забеспячэнне для вымярэння выявы: дзесяткі функцый вымярэння, такіх як перыметр, плошча і працэнтнае ўтрыманне;

Рэжым вываду: вывад табліцы даных, вывад гістаграмы, вывад малюнка на друк.

Выдзеленыя металаграфічныя пакеты праграмнага забеспячэння:

Вымярэнне памеру збожжа і рэйтынг (вылучэнне межаў збожжа, рэканструкцыя межаў збожжа, аднафазная, двухфазная, вымярэнне памеру збожжа, рэйтынг);

Вымярэнне і класіфікацыя неметалічных уключэнняў (у тым ліку сульфідаў, аксідаў, сілікатаў і інш.);

Вымярэнне і рэйтынг утрымання перліту і ферыту;вымярэнне вузлаватасці графіту з каванага чыгуну і рэйтынг;

Слой абязуглерожвання, вымярэнне науглероженного пласта, вымярэнне таўшчыні паверхневага пакрыцця;

Вымярэнне глыбіні зварнога шва;

Вымярэнне фазавай плошчы ферытнай і аўстэнітнай нержавеючай сталі;

Аналіз першаснага крэмнію і эўтэктычнага крэмнію алюмініевага сплаву з высокім утрыманнем крэмнію;

Аналіз матэрыялу з тытанавага сплаву...і г.д.;

Змяшчае металаграфічныя атласы амаль 600 звычайна выкарыстоўваюцца металічных матэрыялаў для параўнання, якія адпавядаюць патрабаванням большасці падраздзяленняў для металаграфічнага аналізу і кантролю;

У сувязі з бесперапынным павелічэннем колькасці новых матэрыялаў і імпартных матэрыялаў, матэрыялы і стандарты ацэнкі, якія не былі ўведзены ў праграмнае забеспячэнне, можна наладзіць і ўвесці.